全集成紫外微流控芯片分析仪专利

 
 
 
 
 
申请（专利）号：CN200710012937.0申请日：2007.09.24
公开（公告）号：CN101398372公开（公告）日：2009.04.01
主分类号：G01N21/17(2006.01)I范畴分类：
分类号：G01N21/17(2006.01)I；G01N21/01(2006.01)I
优先权：
申请（专利权）人：中国科学院大连化学物理研究所；北京彩陆科学仪器有限公司
地址：116023辽宁省大连市中山路457号
国省代码：辽宁；21
发明（设计）人：林炳承；马波；倪春起；王昕；秦建华
国际申请：
国际公布：
进入国家日期：
专利代理机构：沈阳晨创科技专利代理有限责任公司
代理人：张晨
分案申请号：
颁证日：





摘要：
本发明提供了一种实现快速自动光学对准和阵列多通道检测的全集成紫外微流控芯片分析仪，该紫外微流控芯片分析仪由硬件和控制软件模块构成。本发明提出了一种全新的自动光学对准方法，直接利用光学原理，使用软件自动控制芯片检测通道与光路的快速自动对准；本发明首次实现了紫外微流控芯片的阵列多通道检测；用户操作简单，同时提供了强大的功能可扩展性。
主权项：
一种全集成紫外微流控芯片分析仪，其特征在于：所述紫外微流控芯片分析仪由硬件和控制软件模块构成；所述硬件包含插卡式芯片电极板(1)、紫外检测光路系统(2)、CD托盘式芯片移动调节平台(3)、信号采集板(4)、高压电源及控制板(5)；其中所述插卡式芯片电极板(1)与芯片封装一体，插CD托盘式芯片移动调节平台(3)的插槽，与高压电源及控制板(5)相连；所述CD托盘式芯片移动调节平台(3)固定于步进电机上，并在垂直于紫外检测光路系统(2)的平面上移动。
紫外检测光路系统(2)包含有氘灯光源、平面光栅、透镜组、检测器；氘灯光源发出的光经过光路，被聚焦成单色光窄带垂直入射芯片检测通道，透射光被检测器检测，其吸光度信号通过信号采集板(4)采集并传输至计算机；所述控制软件模块，其特征在于包括：光学对准和多通道检测模块，控制CD托盘式芯片移动调节平台(3)移动，监测光强度信号，实现光学对准；设定阵列检测通道之间的间距和通道数目，实现阵列多通道的快速扫描检测；高压控制输出模块，控制高压电源及控制板(5)的高压输出、悬空、接地；信号采集与处理模块，记录信号采集板(4)的信号，完成计算、积分、储存信息。http://www.zhenghang88.cn