湿热、低内压综合试验

湿热、低内压综合试验
 
1范围
光学和光学仪器环境试验方法
第18部分z湿热、低内压综合试验
本部分规定了湿热、低内压综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。
本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件.
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T 12085的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容〉或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的版本。凡是不注目期的引用文件，其版本适用于本部分。
GB/T 12085.1光学和光学仪器环境试验方法第1部分z术语、试验范围(GB/T 12085.1-
2010,I50 9022-1.1994,MOD)
GB/T 12085.8光学和光学仪器环境试验方法第8部分2高压、低压、浸没(GB/T 12085.8•
2010,I50 9022-8.1994,MOm
3试验条件
在综合作用力条件下对暴露的试样进行的测试，要比任→种单一环境条件试验更为严酷.
光学仪器抗湿热和内低压综合试验采用三种不同方法。
4条件试验
4.1总贝11
试样的各个部分都达到与试验箱〈室〉的温差在3K之内开始试验.试样上允许出现凝露。各试验步骤应按预定顺序依次进行。试验过程不允许中断.
4.2条件试验方法47.湿热和内低压，压差低条件试验方法47湿热和内低压，压差低按表1和图L条件试验方法47适用于密封性制造要求低(抗压性低)的光学仪器.例如g符合GB/T 12085.8条
件试验方法81中严酷等级为01、02、07和08的仪器.
 
 
 
4.4条件试验方法49，湿热和内低压，压差高条件试验方法49湿热和内低压，压差高按表3 0条件试验方法49适用于密封性制造要求高(抗压性低〉的光学仪器.例如2符合GB/T 12085.8条件试验方法81中严酷等级为05、06、11、12和13要求的仪器。
 
5试验设备
5.1适用于条件试验方法47
5.1.1带空气环流的气候试验箱(室)0
5.1.2带空气环流的加热或冷冻或类似试验箱(室)0
5.1.3应选择试验箱的尺寸及试样的布局，以确保所有试样的试验条件一致.如果产生凝露，应避免水滴落到试样上.
5.2适用于条件试验方法48
除具备条件试验方法47的试验设备外(见5.1.1)，还需要一个低压容器.
5.3适用于条件试验方法49除具备条件试验方法47的试验设备外(见5.1.1)，还需要一个连接器用于排气及压力测量，如GB/T 12085.8中的规定。
6试验程序
6.1总则
试验应符合相关标准和GB/T 12085.1的要求。
6.2条件试验方法47的试验程序
6.2.1初始试验1在试验开始前，应检查所有试样因装配时湿度过大导致的潮湿.
试样应在温度为-10'c的试验箱内充分冷却，试样各部分均应达到试验箱(室〉温差3K以内。然后，立即将试样放入预热过的温度约40'c左右的试验箱内加热。在加热过程中，应仔细观察试样，如果其内部出现任何水雾湿气，均应立即除去。
6.2.2初始试验2
为了建立内部空气循环期间的温升时间，需在试样内部空气间隔一定距离安装数量合适的传感器。这种测量的时间周期即加热试验箱的内部空气从步骤2到步骤l的按规定所达到试验箱温差3K以内.这一时间周期被认为是步骤1的暴露时间。如果用了几个传感器，则各测量的平均值为暴露时间。
6.2.3试验条件1
按初始试验2的步骤1规定的暴露时间应保持在土10%.以避免由于过度暴露时间使仪器烘干。
对于小于20 m皿的暴露时间，允许公差为士2 mino从步骤1到步骤2或反之的切换应足够迅速，以确保试祥受到的温度变化不大于3 Ko在试验开始时，应记录从室温到40"c所需的升温时间.
6.2.4试验条件2和试验条件3在试验条件1结束后，应立即将试样置于试验条件2中，并切换到试验条件3 0在条件3(中间检测)升温期间，应不断地观察试样，以便于确认仪器内部光学表面的湿气程度以及出现湿气所需时间团
6.3条件试验方法48的试验程序
6.3.1初始试验
按6.2.1所述进行初始试验。
6.3.2试验条件1
装有试样的低压容器应直接装于湿度箱内。将湿皮箱设置到步骤2中所述气候条件。然后在低压容器内设置与所需严酷等级相应的低压值，并在步骤1所要求的暴露时间中维持这一低压。在切换到步骤2时，低压箱内的排气将用湿度箱内的空气循环实现。当低压箱打开时，应使试样维持在步骤2中所述气候条件下的规定暴露时间。以上步骤重复2次或5次(3个或6个循环〉。6.3.3试验条件2和试验条件3试验条件2和试验条件3应按6.2.4所述进行.
6.4条件试验方法49的试验程序
6.4.1初始试验
按6.2.1所述进行初始试验。
在达到试验条件1的试验温度后，对试样进行排气。在持续规定的暴露时间后，应将试样密封，并存放在与试验条件2所规定的暴露时间相同的气候条件下。
6.4.2试验条件3和试验条件4按6.2.4中试验条件2和试验条件3所述进行。
6.5初始和最后检测将试样对着暗背景放大6X或10X目视检测。检测用的照明采用带反光镜及聚光镜的卤素灯(功率至少100 W)组成的光源装置，或形成平行光的类似仪器.试样在室温下存放24 h以后，用放大率150X或更大倍率，采用合适的光源(如功率为7.5 W的îilí.灯).在人射光暗场中对被拆光学元件的表面
进行检测，观察在其光学表面出现的任何特性变化及变化程度。
7环境试验标记
环境试验标记应符合GB/T 12085.1的有关规定。
示例:光学仪器抗湿热和内低压综合环境试验，压差高，条件试验方法49、严酷等级03、工作状态1的标记为2
环境试验GB/T 12085-49-03-1
8有关标准应包括的内容
a)环境试验标记;
b)试样数量;
c)温度传感器在试样上的位置g
d)预处理s
e)初始检测的内容和范围p
D试样时间的确定g
g)恢复p
h)最后检测的内容和范围3
0评价判据g
j)试验报告的内容和范围。
A.1条件试验方法47
 
(资料性附录〉
注释
条件试验方法47是用来形成试样经历的类似条件，例如，在强阳光与强降雨之间频繁变换的气候条件。密封性差的仪器特别遭受风险是由于湿气的渗透。内低压就是由于温度变化所致.
A.2条件试验方法48
条件试验方法48是用来模拟试样经历的环境条件，例如，试样在空运中的环境条件.在飞机飞行过程中，货物舱内的气压可低达50 kPa，当飞机在高度潮湿环境着陆时，仪器内部气压平衡会引起湿气渗透，尤其会进入中等密封的仪器。
A.3条件试验方法49
条件试验方法49不是用于模拟自然界的环境条件，其主要用于确认在密封性要求很高的仪器中密封性与湿度的关系。