★、PCT高压加速老化试验机主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
重庆钕铁硼磁性材料光纤高压加速老化试验箱|高壓加速測試機PCT结构及安全装置：
★、圆形横置式内槽结构设计方便使用者取置待测物品，可预防试验中有滴水结露现象,可避免蒸汽过热直接冲击操作人员。
★、安全程序自动停机,自动泄压,自动破真空,自动给水,每次加水可持续运行48小时(可根据客户要求订制,也可做成全自动补水系统)。
★、采用温度与压力安全检知及门禁自动锁定控制系统,圆型测试槽与安全门环扣结构设计,当内箱压力越大时,反压会迫使安全门与箱体更加紧密之结合,故内箱压力必须小于正常压力时,测试门才能被打开,因此而保证了操作人员的安全。
★、真空系统保证实验中箱内空气的纯净度(实验前系统可将箱内空气抽出,并将其过滤为新空气)
★、具备异常故障讯号警示功能
PCT

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